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HJ 57-2017 英語 PDF (HJ57-2017)

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HJ 57-2017: 固定発生源排出 - 二酸化硫黄の測定 - 電気分解法による固定電位
HJ57-2017
環境保護基準
中華人民共和国
HJ 57-2000の交換
固定発生源からの排出 - 硫黄の測定
二酸化ケイ素 - 電気分解法による固定電位
発行日: 2017年11月28日
実施日: 2018年1月1日
発行元:環境保護省
目次
序文…3
1 範囲 ... 5
2 規範的参照 ... 5
3 用語と定義 ... 5
4 方法の原理 ... 7
5 干渉と排除 ... 7
6 試薬および材料 ... 8
7 器具および装置 ... 8
8 サンプリングと測定 ... 9
9 結果の計算と表示 ... 10
10 精度と正確さ...11
11 品質保証と品質管理...12
12 注意事項 ... 13
付録A(参考)一酸化炭素干渉試験 - 動的曝気
マトリックステスト法 ... 15
付録B(参考)機器の性能レビュー結果(導入前と導入後)
測定後…22
固定発生源からの排出 - 硫黄の測定
二酸化ケイ素 - 電気分解法による固定電位
1 範囲
この規格は、固定電位電解法を規定する。
固定発生源からの排出物中の二酸化硫黄の測定。
この規格は、固定発生源中の二酸化硫黄の測定に適用される。
排出。
この基準の検出限界は3mg/m3です。測定下限値は
12 mg/m3です。
2 規範的参照
この規格の内容は、以下の文書またはその用語を参照しています。
日付のない参照については、有効なバージョンがこの規格に適用されます。
GB/T 16157 粒子状物質の測定及びサンプリング方法
固定発生源の排気ガスから排出されるガス状汚染物質
HJ 75 SO2、NOX、およびCO2の連続排出モニタリングの仕様
固定発生源から排出される排気ガス中の粒子状物質
HJ 76 連続排出モニタリングの仕様と試験手順
排気ガス中のSO2、NOX、粒子状物質を分析するシステム
静止した
HJ/T 46 二酸化硫黄濃度検出器の技術的条件
定電位電解法
HJ/T 373 品質保証と品質管理の技術仕様
固定汚染源のモニタリング(試行中)
HJ/T 397 固定式排出ガス監視の技術仕様
ソース
3 用語と定義
3.1
4 方法の原理
サンプルは主に電解セルと
電解質、電極(感応電極、参照電極、対極)
二酸化硫黄は透過膜を通って電極に拡散します。
感応電極の表面で酸化反応が起こる。
電極:
その結果、究極の拡散電流(i)が得られる。指定された動作条件下では、
条件、電子移動数(Z)、ファラデー定数(F)、ガス
拡散面積(S)、拡散係数(D)、拡散層の厚さ(δ)は
定数である。最終的な拡散電流(i)の大きさは、
二酸化硫黄の濃度(c)なので、究極の拡散電流(i)を利用できる可能性がある。
二酸化硫黄の濃度を測定する(c)。
5 干渉と排除
5.1 試験対象ガス中の粒子状物質、水分、三酸化硫黄
センサーの透過膜の表面に凝縮しやすく、
センサーに損傷を与え、測定に影響を与えるため、フィルターで除去する必要がある。
集塵装置、除湿装置、ミストフィルターなどにより影響を排除します。
5.2 アンモニア、硫化水素、塩化水素、フッ化水素、窒素
二酸化炭素などはサンプルの測定にいくらかの干渉を引き起こす。
リン酸吸収、酢酸鉛吸着、ガスフィルターろ過を使用することができる
干渉を軽減するためのその他の対策。
5.3 一酸化炭素の干渉は大きいので、
一酸化炭素は、
サンプル。一酸化炭素濃度が50を超えない場合
μmol/molの場合、サンプルはこの標準で測定できます。
一酸化炭素濃度が50μmol/molを超えると、干渉試験
二酸化炭素の排出は二酸化硫黄の最初の使用前に実施しなければならない。
分析装置(付録Aを参照)。
二酸化硫黄と一酸化炭素の最高濃度が測定された
干渉試験により、サンプルはこの規格によって判定できます。
調整可能な減圧弁、調整可能なローターを装備
流量計、エアダクト。
7.3 ガスバッグ
エアバッグ法による分析計の校正に使用します。容量は4L~8Lです。
ライニング材料は、アルミニウムプラスチック複合フィルムから選択されるものとする。
ポリテトラフルオロエチレンフィルムおよび他の影響がほとんどない不活性材料
測定されたコンポーネントについて。
7.4 排出パラメータテスター
水分含有量、煙道ガスなどのパラメータを検査できる機器
ガスの温度、排気ガスの圧力、排気ガスの流量、流量。
7.5 一酸化炭素測定装置
炭素濃度を測定できる装置または機器
排出物中の一酸化炭素。
8 サンプリングと測定
8.1 サンプリングポイントとサンプリング周波数の決定
GB/T 16157、HJ/T 397、HJ/T 373、HJ 75、HJ 76および関連規格によると
要件、サンプリング位置、サンプリングポイント、サンプリングを決定する
頻度。
8.2 テスターの気密性の検査
機器の取扱説明書に従って、分析装置を接続し、
サンプリングチューブ、エアダクトなどを正しく取り付けてください。作業条件に達した後
機器の気密性はGB/T 16157またはHJ/T 46に従って確認してください。
検査に合格しなかった場合は、漏れを発見し、検査が完了するまで修理しなければならない。
資格があります。
8.3 分析計の校正
8.3.1 ゼロ校正
ゼロガスを分析装置に導入して、機器のゼロ点を校正します。
8.3.2 範囲の校正
二酸化硫黄標準ガスを分析装置に導入して測定します。
校正誤差が7.1.2 a)の要件を満たし、分析装置が使用可能である。
それ以外の場合は、キャリブレーションが必要です。キャリブレーション方法は次のとおりです。
再度キャリブレーションエラーとシステムバイアスを計算します。キャリブレーションエラーが
およびシステムバイアスが7.1.2 a)およびb)の要件を満たしているかどうかの判定
サンプルの結果は有効です。そうでない場合、サンプルの判定結果は
無効です。
注:システム全体の校正誤差の検査に使用する場合があります。
サンプリングチューブ、空気誘導チューブ、除湿装置を代替する
分析計の校正誤差とシステムバイアスの検査[
評価は要件7.1.2 a)に従います。
11.3 サンプル測定結果は、
機器の校正範囲。そうでない場合は、校正範囲を再選択する。
スパン。
11.4 分析装置が一酸化炭素の干渉テストを実施しない場合
または一酸化炭素の干渉テストに失敗した場合、硫黄の分データは
二酸化炭素濃度は、
排気ガス中の濃度が50μmol/molを超える場合は無効データとして除外する。
分析装置は一酸化炭素の干渉テストに合格しており、分データは
二酸化硫黄濃度の測定結果
一酸化炭素...
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