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GB/T 33345-2016 英語 PDF (GBT33345-2016)
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GB/T 33345-2016: 電気電子製品中の短鎖塩素化パラフィンの測定 - ガスクロマトグラフィー質量分析法
国際規格 33345-2016
イギリス
国家標準の
中華人民共和国
ICS31.020
10 ...
短鎖塩素化パラフィンの測定
電気・電子製品 - ガス
クロマトグラフィー質量分析
発行日:2016年12月13日
2017年7月1日に実施
発行元:国家品質監督検査総局
検疫;
中華人民共和国標準化管理局。
目次
序文…3
1 スコープ...4
2 規範的参照... 4
3 用語と定義...4
4 原則...5
5 試薬または材料...5
6 装備...5
7 サンプル... 6
8 テスト手順...6
9 テスト...7
10 テストデータ処理... 10
11 精度... 11
付録A(参考)短鎖塩素化パラフィンの測定
電子・電気製品 - ガスクロマトグラフィー-電子
衝撃質量分析法...12
付録B(参考)短鎖塩素化パラフィンの測定
電子・電気製品 - ガスクロマトグラフィー... 15
付録C(参考)短鎖の標準物質試験スペクトル
塩素化パラフィン...19
付録D(参考)理論塩素含有量...20
情報セキュリティ技術 - SM4ブロック暗号
アルゴリズム
警告 - この規格を使用する担当者は実務経験を有する必要があります
この基準は、すべての可能性のあることを指摘しているわけではない。
安全性の問題。ユーザーは適切な安全対策を講じる責任があります。
健康対策と規定された条件の遵守の確保
関連する国内法および規制により。
1 範囲
この規格は、
電子機器中の短鎖塩素化パラフィンの測定
ガスクロマトグラフィーによる製品 - 電子捕獲負化学イオン
ソース質量分析計。
この規格は短鎖塩素化パラフィンの測定に適用される。
電子・電気製品では、定量限界は100
mg/kg。ガスクロマトグラフィー-電子捕獲負化学イオン源
質量分析は短鎖塩素化物の測定に適用可能である。
電子・電気製品に含まれる塩素原子番号を持つパラフィン
5以上短鎖塩素化パラフィンを測定する場合
電気電子製品に含まれる塩素原子が5個未満のものは、
付録Aまたは付録Bの方法を参照することができます。
2 規範的参照
この文書の申請には以下の文書が必須です。
日付の記載された文書については、日付が示されたバージョンのみが適用されます。
この文書にのみ適用されます。日付のない文書については、最新バージョン(
すべての修正がこの規格に適用されます。
GB/T 26572-2011 特定の制限物質の濃度制限の要件
電気電子製品に含まれる物質
3 用語と定義
この文書には以下の用語と定義が適用されます。
3.1
6.3 凝縮器および加熱装置を備えたソックスレー抽出装置、または
自動ソックスレー抽出装置を使用します。
6.4 粉砕装置。切断機またははさみを備えたもの。
粉砕機、冷凍粉砕設備、その他粉砕に主に使用される装置
サンプル。
6.5 真空引きが可能なロータリーエバポレーター。
6.6 遠心分離機であって、その速度が4000r/min以上であるもの。
7 サンプル
電子・電気製品に使用されるポリマー材料や
付録Aの分離方法に従って得られた分析サンプル
GB/T 26572-2011の粒子はまず1cm未満の粒子サイズに粉砕され、その後
凍結粉砕機または同等の装置(6.4)で粉砕し、
1mm未満。
8 テスト手順
8.1 サンプル抽出
ソックスレー抽出法を使用してサンプルを処理します。手順は次のとおりです。
続きます。
a) 粉砕したサンプルを0.5g(0.0001gの精度)計量し、
抽出と洗浄後のセルロースろ紙カートリッジ。
設置されたソックスレー抽出装置において、
b) ソックスレー抽出装置にトルエン(5.2)を約50mL加える。
抽出サイクル数は60以上である。
c) [8.1.b)]の抽出物を、水浴中で回転蒸発器で濃縮する。
80℃で約1mLまで加熱する。抽出液の粘度が高い場合は、
[8.2.a]に従って直接注入する;そうでなければ10.0mLの
メスフラスコ;蒸留フラスコは、少なくとも3回洗浄されなければならない。
n-ヘキサン(5.1)の使用。洗浄液は10.0mLの
メスフラスコ。n-ヘキサン(5.1)を目盛りまで入れた後、
[8.2.b)]に従って処理します。
抽出および洗浄中にサンプルを追加しないことが推奨されます。
セルロース濾紙カートリッジの工程。操作は次のように行う。
抽出手順[8.1.b)]に従って行う。
使用する機器に応じて、最適な分析条件も異なります。
異なるため、ガスクロマトグラフィーの一般的なパラメータを与えることは不可能である。
電子捕獲負化学イオン源分析。設定されたパラメータ
試験された物質の効果的な分離と測定を確実にする
コンポーネント。以下に示すパラメータは実行可能であることが証明されています。
a) クロマトグラフィーカラム。15 m × 0.25 mm (内径) × 0.1 μm (フィルム)
厚さ)、固定相は5%フェニル、95%ジメチルポリシロキサン
石英毛細管カラムまたは同等品
b) 入口温度 280 °C
c) クロマトグラフィーカラム温度プログラム。100℃で1分間保持します。
その後、プログラムに従って温度を300℃まで上げ、
20 °C/分、9分間保持。
d) 伝送線路温度 300 °C
e) キャリアガス。純度が99.999%以上のヘリウム。
f) キャリアガス流量。1 mL/分。
g) 注入量。1.0μL;
h) サンプル注入モード。スプリットレスサンプル注入を採用し、スプリットに切り替える。
1分後のモード(分割比20.1)
i) イオン源温度 160 °C
j) 試薬ガス。メタン。
k) 試薬ガス流量 2.0 mL/分
l) イオン化法。電子捕獲負化学源イオン化。
m) 測定方法。イオンスキャンモードを選択し、定性分析については表1を参照。
および定量イオン。
n) 溶媒遅延。5分。
付録A
(参考)
電子および電子部品中の短鎖塩素化パラフィンの測定
電気製品 - ガスクロマトグラフィー-電子衝撃質量
分光測定
第7章と第8章に従ってサンプルを前処理し、
試験する標本。次にガスクロマトグラフィー電子衝撃法を使用する。
短鎖塩素化物の濃度を測定するための質量分析計
試験する試料中のパラフィン。特徴的なイオンピークと
定性分析を行うための保持時間、定量分析を行う
対応するピーク面積と
総短鎖塩素化パラフィンの濃度。
A.1 ガスクロマトグラフィー電子衝撃質量分析条件
使用する機器に応じて、最適な分析条件も異なります。
異なるため、ガスクロマトグラフィーの一般的なパラメータを与えることは不可能である。
電子衝撃質量分析法。設定されたパラメータは、
試験した成分を効果的に分離し、決定する。
以下に示すパラメータは実行可能であることが証明されています。
a) クロマトグラフィー
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国際規格 33345-2016
イギリス
国家標準の
中華人民共和国
ICS31.020
10 ...
短鎖塩素化パラフィンの測定
電気・電子製品 - ガス
クロマトグラフィー質量分析
発行日:2016年12月13日
2017年7月1日に実施
発行元:国家品質監督検査総局
検疫;
中華人民共和国標準化管理局。
目次
序文…3
1 スコープ...4
2 規範的参照... 4
3 用語と定義...4
4 原則...5
5 試薬または材料...5
6 装備...5
7 サンプル... 6
8 テスト手順...6
9 テスト...7
10 テストデータ処理... 10
11 精度... 11
付録A(参考)短鎖塩素化パラフィンの測定
電子・電気製品 - ガスクロマトグラフィー-電子
衝撃質量分析法...12
付録B(参考)短鎖塩素化パラフィンの測定
電子・電気製品 - ガスクロマトグラフィー... 15
付録C(参考)短鎖の標準物質試験スペクトル
塩素化パラフィン...19
付録D(参考)理論塩素含有量...20
情報セキュリティ技術 - SM4ブロック暗号
アルゴリズム
警告 - この規格を使用する担当者は実務経験を有する必要があります
この基準は、すべての可能性のあることを指摘しているわけではない。
安全性の問題。ユーザーは適切な安全対策を講じる責任があります。
健康対策と規定された条件の遵守の確保
関連する国内法および規制により。
1 範囲
この規格は、
電子機器中の短鎖塩素化パラフィンの測定
ガスクロマトグラフィーによる製品 - 電子捕獲負化学イオン
ソース質量分析計。
この規格は短鎖塩素化パラフィンの測定に適用される。
電子・電気製品では、定量限界は100
mg/kg。ガスクロマトグラフィー-電子捕獲負化学イオン源
質量分析は短鎖塩素化物の測定に適用可能である。
電子・電気製品に含まれる塩素原子番号を持つパラフィン
5以上短鎖塩素化パラフィンを測定する場合
電気電子製品に含まれる塩素原子が5個未満のものは、
付録Aまたは付録Bの方法を参照することができます。
2 規範的参照
この文書の申請には以下の文書が必須です。
日付の記載された文書については、日付が示されたバージョンのみが適用されます。
この文書にのみ適用されます。日付のない文書については、最新バージョン(
すべての修正がこの規格に適用されます。
GB/T 26572-2011 特定の制限物質の濃度制限の要件
電気電子製品に含まれる物質
3 用語と定義
この文書には以下の用語と定義が適用されます。
3.1
6.3 凝縮器および加熱装置を備えたソックスレー抽出装置、または
自動ソックスレー抽出装置を使用します。
6.4 粉砕装置。切断機またははさみを備えたもの。
粉砕機、冷凍粉砕設備、その他粉砕に主に使用される装置
サンプル。
6.5 真空引きが可能なロータリーエバポレーター。
6.6 遠心分離機であって、その速度が4000r/min以上であるもの。
7 サンプル
電子・電気製品に使用されるポリマー材料や
付録Aの分離方法に従って得られた分析サンプル
GB/T 26572-2011の粒子はまず1cm未満の粒子サイズに粉砕され、その後
凍結粉砕機または同等の装置(6.4)で粉砕し、
1mm未満。
8 テスト手順
8.1 サンプル抽出
ソックスレー抽出法を使用してサンプルを処理します。手順は次のとおりです。
続きます。
a) 粉砕したサンプルを0.5g(0.0001gの精度)計量し、
抽出と洗浄後のセルロースろ紙カートリッジ。
設置されたソックスレー抽出装置において、
b) ソックスレー抽出装置にトルエン(5.2)を約50mL加える。
抽出サイクル数は60以上である。
c) [8.1.b)]の抽出物を、水浴中で回転蒸発器で濃縮する。
80℃で約1mLまで加熱する。抽出液の粘度が高い場合は、
[8.2.a]に従って直接注入する;そうでなければ10.0mLの
メスフラスコ;蒸留フラスコは、少なくとも3回洗浄されなければならない。
n-ヘキサン(5.1)の使用。洗浄液は10.0mLの
メスフラスコ。n-ヘキサン(5.1)を目盛りまで入れた後、
[8.2.b)]に従って処理します。
抽出および洗浄中にサンプルを追加しないことが推奨されます。
セルロース濾紙カートリッジの工程。操作は次のように行う。
抽出手順[8.1.b)]に従って行う。
使用する機器に応じて、最適な分析条件も異なります。
異なるため、ガスクロマトグラフィーの一般的なパラメータを与えることは不可能である。
電子捕獲負化学イオン源分析。設定されたパラメータ
試験された物質の効果的な分離と測定を確実にする
コンポーネント。以下に示すパラメータは実行可能であることが証明されています。
a) クロマトグラフィーカラム。15 m × 0.25 mm (内径) × 0.1 μm (フィルム)
厚さ)、固定相は5%フェニル、95%ジメチルポリシロキサン
石英毛細管カラムまたは同等品
b) 入口温度 280 °C
c) クロマトグラフィーカラム温度プログラム。100℃で1分間保持します。
その後、プログラムに従って温度を300℃まで上げ、
20 °C/分、9分間保持。
d) 伝送線路温度 300 °C
e) キャリアガス。純度が99.999%以上のヘリウム。
f) キャリアガス流量。1 mL/分。
g) 注入量。1.0μL;
h) サンプル注入モード。スプリットレスサンプル注入を採用し、スプリットに切り替える。
1分後のモード(分割比20.1)
i) イオン源温度 160 °C
j) 試薬ガス。メタン。
k) 試薬ガス流量 2.0 mL/分
l) イオン化法。電子捕獲負化学源イオン化。
m) 測定方法。イオンスキャンモードを選択し、定性分析については表1を参照。
および定量イオン。
n) 溶媒遅延。5分。
付録A
(参考)
電子および電子部品中の短鎖塩素化パラフィンの測定
電気製品 - ガスクロマトグラフィー-電子衝撃質量
分光測定
第7章と第8章に従ってサンプルを前処理し、
試験する標本。次にガスクロマトグラフィー電子衝撃法を使用する。
短鎖塩素化物の濃度を測定するための質量分析計
試験する試料中のパラフィン。特徴的なイオンピークと
定性分析を行うための保持時間、定量分析を行う
対応するピーク面積と
総短鎖塩素化パラフィンの濃度。
A.1 ガスクロマトグラフィー電子衝撃質量分析条件
使用する機器に応じて、最適な分析条件も異なります。
異なるため、ガスクロマトグラフィーの一般的なパラメータを与えることは不可能である。
電子衝撃質量分析法。設定されたパラメータは、
試験した成分を効果的に分離し、決定する。
以下に示すパラメータは実行可能であることが証明されています。
a) クロマトグラフィー
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